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Electronique

Testeur de composants HAMEG HZ65

 

image du Testeur de composants HAMEG HZ65En association avec un oscilloscope double-trace, le testeur de composants HAMEG HZ65 peut être utilisé pour tester des composants semi-conducteurs, des résistances, condensateurs et inductances non seulement hors circuit, mais aussi souvent sans les dessouder des cartes de circuits imprimés. Dans certaines limites, le test d'un circuit intégré est également possible. Les transistors peuvent être branchés sur deux supports à 3 points; toutes les combinaisons de 2 contacts peuvent être sélectionnées à l'aide d'un commutateur pour le test.

Cela simplifie les tests de différents brochages des transistors (base-émetteur,  émetteur-collecteur, base-collecteur). Les composants présentant des pattes de plus grand diamètre et les circuits intégrés sont reliés à deux fiches banane sur le côté de la HZ65 en utilisant 2 câbles de test. Le sens de circulation du courant à travers le composant testé ou IC peut être inversé. Le testeur de composants HZ65 est particulièrement indispensable pour la réparation des appareils, offrant une information bon ou défecteux en quelques secondes. Cela permet aussi une comparaison rapide de l'unité sous test avec un composant réputé bon.
Sur certains appareils récents, le testeur de composants y est même intégré d'origine.

 

Affichage de la figure de test1

La page Tests montre différentes figures avec des composants testés.
- Un circuit ouvert est représenté par une ligne horizontale.
- Un court-circuit est représenté par une ligne verticale.

Test de résistances

Si le composant est une résistance pure, la tension et le courant sont en phase. La figure de test est une ligne droite oblique.
La valeur de la résistance détermine l’angle d’inclinaison. Les valeurs de résistances élevées donnent une trace proche de l’horizontale et des valeurs faibles donnent
une trace proche de la verticale.
Les résistances comprises entre 20Ω et 4,7kΩ peuvent être évaluées. L’évaluation d’une résistance vient de l’expérience ou d’une comparaison directe avec un composant connu.

Test de capacités et d’inductances

Les capacités et les inductances provoquent une différence de phase entre le courant et la tension engendrant ainsi une ellipse. L’angle et l’ouverture de l’ellipse dépend de l’impédance du composant à 50Hz.
Une ellipse horizontale indique une haute impédance, une faible capacité ou une inductance relativement élevée. Une ellipse verticale indique une faible impédance, une capacité élevée ou une inductance relativement faible.

Une ellipse inclinée provient d’une résistance élevée ajoutée à une réactance. Les valeurs des capacités normales ou électrochimiques de 0,1μF à 1000μF peuvent être obtenues approximativement.
Des mesures précises peuvennt être réalisées par comparaison avec une capacité connue. Les composants inductifs tels que bobines, transformateurs, peuvent également être testés.
La détermination de la valeur d’une inductance est plus difficile à cause de la résistance série. Cependant la valeur de l’impédance d’une self (à 50Hz) peut facilement être obtenue et comparée dans la gamme de 20Ω
à 4,7kΩ.

Test des semiconducteurs

La plupart des semiconducteurs tels que diodes, diodes Zener, transistors et effets de champs peuvent être testés. La figure obtenue dépend du type du composant (voir ci dessous).
La principale caractéristique des semiconducteurs est la non linéarité. Elle donne à l’écran deux segments qui forment un angle. Il faut noter que caractéristiques directes et inverses sont visualisées simultanément.
Ce test concerne seulement deux broches, ainsi le test de gain d’un transistor n’est pas possible. Comme la tension de test appliquée est basse, toutes les jonctions de la plupart des semiconducteurs peuvent
être testées sans dommage. C’est pourquoi le test de la tension de blocage ou de la tension inverse des semiconducteurs haute tension n’est pas possible. Dans de nombreux cas, seul un test de circuit ouvert ou fermé est suffisant.

Test de diodes

Le tracé de caractéristiques de diodes présente une angulation. Le tracé pour les diodes haute tension est différent parce que ces diodes sont composées de plusieurs diodes mises en série.
Il est possible que seule une partie de la caractéristique soit visible. Les diodes Zener présentent deux coudes, une coude proche de 0V, et un coude montrant la tension de Zener.
Les tensions de Zener supérieures à 10V ne peuvent pas être visualisées.
La polarité d’une diode inconnue peut être identifiée par comparaison avec une diode connue.

Test Diodes [480x203px]

Test de transistors

Les tests suivants peuvent être réalisés sur les transistors: base émetteur, base collecteur et émetteur collecteur. Les figures de test sont représentées ci-dessous.
Le circuit équivalent d’une diode Zener est la mise en série de plusieures diodes normales. Il y a trois figures de test différentes:

Pour un transistor, les figures B-E et B-C sont importantes. La figure E-C est variable; une ligne verticale montre un courtcircuit.

Ces figures sont identiques avec la plupart des transistors sauf avec les Darlington et les FET. Le testeur de composants permet de distinguer un transistor PNP d’un transistor NPN.
En cas de doute, la comparaison avec un composant connu est utile. Une inversion de connexion engendre une rotation de la figure à l’écran de 180°.

Test Transistors [480x385px]

Tests sur circuit 

ATTENTION !
Lors de tests sur circuit il faut s’assurer que le circuit est deconnecté. Il ne doit être relié ni au secteur, ni à une batterie, ni à des signaux d’entrée.
Débrancher toutes les connexions du circuit y compris le câble de masse et les cordons de mesure afin qu’il soit entièrement isolé électriquement.

Dans de nombreux cas les tests sur circuits sont possibles. Les figures obtenues ne sont pas classées parce qu’elles dépendent de l’ensemble des composants aux deux points de test.
Ainsi, la figure obtenue peut être différente de celle obtenue avec un composant isolé. En cas de doute, désouder le composant du circuit. Mettre le composant directement sur les prises du testeur de composants
pour éviter les phénomènes de ronflement.

On peut également procéder par comparaison avec un circuit en état de marche en prenant les mêmes précautions que pour le circuit à tester.

Test Composants seuls [320x393px]  Test Transistors seuls [320x401px] 
 Test Diodes seuls [320x548px]  Test Semi conducteurs on circuit [320x549px]

 



Lien vers le site HAMEG.

1L'intégralité de ce texte descriptif provient de la notice d'utilisation (pages 36-37) de mon oscilloscope HM-407-2 HAMEG pdf3
Copie PDF de la notice d'utilisation de la sonde HZ65 trouvée sur le site de HAMEG (en Allemand et Anglais)
pdf3

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